產(chǎn)品分類
- 磁測量儀器
- 齒輪測量儀
- 合金成分光譜儀
- 粗糙度儀
- 表面活性劑性能分析儀器
- 量塊
- 金屬打標(biāo)機(jī)
- 金相設(shè)備
- 金相顯微鏡
- 體視顯微鏡
- 偏光顯微鏡
- 生物顯微鏡
- 倒置顯微鏡
- 熒光顯微鏡
- 工具顯微鏡
- 讀數(shù)顯微鏡
- 光學(xué)投影儀
- 影像測量儀
- 測高儀/測長儀
- 測厚儀
- 超聲波探傷儀
- 推拉力計(jì)
- 萬能試驗(yàn)機(jī)
- 便攜式硬度計(jì)
- 臺式硬度計(jì)
- 工量具
- 角度量儀
- 環(huán)境檢測儀器
- 溫濕度計(jì)
- 紅外測溫儀
- 水份測試儀
- 風(fēng)速儀/轉(zhuǎn)速表
- 噪音計(jì)/照度計(jì)
- 秒表/折射儀
- 三坐標(biāo)
- 公司軟件
- 氣動量儀
- 電子天平
- 光澤度儀
- 色差儀
- 分光光度計(jì)
文章詳情
平行平晶的測量方法
日期：2024-08-03 20:14
瀏覽次數(shù)：1713
摘要：
平行平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測量平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法,也稱技術(shù)光波干涉法。在測量的時(shí)候,把平行平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ，以單色光源照射時(shí)會產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如果入射光線垂直于被測表面，并且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下，則會出現(xiàn)彩色干涉條紋。如果干涉條紋平直，相互平行,并且分布均勻,則會表示被測表面的平面度很好；如果干涉條紋彎曲，則會表示平面度 不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)
λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。
